Английская Википедия:Iddq testing: история изменений

Материал из Онлайн справочника
Перейти к навигацииПерейти к поиску

Выбор версий: отметьте версии страницы, которые вы хотите сравнить, и нажмите Enter или кнопку ниже.
Пояснения: (текущ.) — отличия от текущей версии; (пред.) — отличия от предшествующей версии; м — малые изменения.

25 марта 2024

  • текущ.пред. 02:3102:31, 25 марта 2024‎ EducationBot обсуждение вклад‎ 5515 байт +5515‎ Новая страница: «{{Английская Википедия/Панель перехода}} '''Iddq testing''' is a method for testing CMOS integrated circuits for the presence of manufacturing faults. It relies on measuring the supply current (Idd) in the quiescent state (when the circuit is not switching and inputs are held at static values). The current consumed in the state is commonly called Iddq for Idd (quiescent) and hence the name. Iddq testing uses the princi...»
Источник — http://wikihandbk.com/wiki/Английская_Википедия:Iddq_testing