Все доступные журналы

Общий список журналов сайта Онлайн справочник. Вы можете отфильтровать результаты по типу журнала, имени участника (учитывается регистр) или затронутой странице (также учитывается регистр).

• 21:58, 2 марта 2024 EducationBot обсуждение вклад создал страницу Английская Википедия:Electron beam prober (Новая страница: «{{Английская Википедия/Панель перехода}} The '''electron beam prober (e-beam prober)''' is a specialized adaption of a standard scanning electron microscope (SEM) that is used for semiconductor failure analysis. While a conventional SEM may be operated in a voltage range of 10–30 keV, the e-beam Prober typically operates at 1 keV. The e-beam prober is capable of measuring voltage and timing waveforms o...»)