Все доступные журналы
Материал из Онлайн справочника
Перейти к навигацииПерейти к поиску
Общий список журналов сайта Онлайн справочник. Вы можете отфильтровать результаты по типу журнала, имени участника (учитывается регистр) или затронутой странице (также учитывается регистр).
- 02:31, 25 марта 2024 EducationBot обсуждение вклад создал страницу Английская Википедия:Iddq testing (Новая страница: «{{Английская Википедия/Панель перехода}} '''Iddq testing''' is a method for testing CMOS integrated circuits for the presence of manufacturing faults. It relies on measuring the supply current (Idd) in the quiescent state (when the circuit is not switching and inputs are held at static values). The current consumed in the state is commonly called Iddq for Idd (quiescent) and hence the name. Iddq testing uses the princi...»)