Электроника:Полупроводники/Полевые транзисторы/Проверка полевого транзистора (JFET) с помощью мультиметра: различия между версиями
Valemak (обсуждение | вклад) (Новая страница: «{{Панель управления/Электроника}} {{Перевод от valemak}} {{Myagkij-редактор}} =Проверка полевого тр...») |
Нет описания правки |
||
(не показано 6 промежуточных версий 1 участника) | |||
Строка 5: | Строка 5: | ||
=Проверка полевого транзистора (JFET) с помощью мультиметра<ref>[https://www.allaboutcircuits.com/textbook/semiconductors/chpt-5/meter-check-transistor-jfet/ www.allaboutcircuits.com - Meter Check of a Transistor (JFET)]</ref>= | =Проверка полевого транзистора (JFET) с помощью мультиметра<ref>[https://www.allaboutcircuits.com/textbook/semiconductors/chpt-5/meter-check-transistor-jfet/ www.allaboutcircuits.com - Meter Check of a Transistor (JFET)]</ref>= | ||
Тестирование полевого транзистора с помощью | Тестирование [[полевого транзистора]] с помощью [[мультиметр]]а может показаться относительно простой задачей, поскольку у него есть только один [[P-N-переход]], который нужно проверить: измерение проводится либо между [[затвор]]ом и [[исток]]ом, либо между [[затвор]]ом и [[сток]]ом. | ||
== Тестирование непрерывности N-канального JFET == | == Тестирование непрерывности N-канального JFET == | ||
{| class="wikitable" | {|class="wikitable" style="margin:0 auto" | ||
|- | |- | ||
| [[File:III-05_3_1.jpg|400px|center|thumb|'''Рис. 1.''' И один и второй мультиметр показывают непроводимость (высокое сопротивление) перехода затвор/канал.|alt=Рис. 1. И один и второй мультиметр показывают непроводимость (высокое сопротивление) перехода затвор/канал.]] || [[File:III-05_3_2.jpg|400px|center|thumb|'''Рис. 2.''' И один и второй мультиметр показывают проводимость (низкое сопротивление) перехода затвор/канал.|alt=Рис. 2. И один и второй мультиметр показывают проводимость (низкое сопротивление) перехода затвор/канал.]] | | [[File:III-05_3_1.jpg|400px|center|thumb|'''Рис. 1.''' И один и второй [[мультиметр]] показывают непроводимость (высокое сопротивление) перехода [[затвор]]/канал.|alt=Рис. 1. И один и второй мультиметр показывают непроводимость (высокое сопротивление) перехода затвор/канал.]] || [[File:III-05_3_2.jpg|400px|center|thumb|'''Рис. 2.''' И один и второй мультиметр показывают проводимость (низкое сопротивление) перехода затвор/канал.|alt=Рис. 2. И один и второй мультиметр показывают проводимость (низкое сопротивление) перехода затвор/канал.]] | ||
|} | |} | ||
Другое дело – проверка целостности канала сток/исток. Припоминаете из предыдущего раздела, как накопленный заряд за счёт ёмкости P-N- | Другое дело – проверка целостности канала [[сток]]/[[исток]]. Припоминаете из предыдущего раздела, как накопленный заряд за счёт ёмкости [[P-N-переход]]а затворного канала удерживает [[полевой транзистор]] в отключённом состоянии без какого-либо внешнего напряжения? Так вот – подобное может произойти, даже если вы держите [[JFET]] в руке, чтобы его проверить! Из чего следует, что в измерителе любое показание непрерывности через этот канал будет непредсказуемым, поскольку вы не знаете наверняка, накопился ли заряд в переходе [[затвор]]/канал. Конечно, если заранее известно, какие клеммы на устройстве ведут к [[затвор]]у, [[исток]]у и [[сток]]у, то можно подключиться к перемычке между [[затвор]]ом и [[исток]]ом, чтобы избавиться от любого накопленного заряда, а затем без проблем приступить к проверке целостности цепи [[исток]]/[[сток]]. Однако, если вы не знаете, где какие выводы, неопределённость того, где именно находится переход [[исток]]/[[сток]] может запутать идентификацию, где какой вывод. | ||
== Как тестировать JFET == | == Как тестировать JFET == | ||
Хорошая стратегия, которой следует придерживаться при тестировании JFET, – вставить контакты | Хорошая стратегия, которой следует придерживаться при тестировании [[JFET]], – вставить контакты [[транзистор]]а в [[антистатический пенопласт]] (это такой материал, используемый для доставки и хранения статических электронных компонентов) непосредственно перед тестированием. Проводимость [[пенопласт]]а создаёт резистивное соединение между всеми выводами [[транзистор]]а, когда они будут в него вставлены. Это соединение гарантирует, что всё остаточное напряжение, создаваемое на [[P-N-переход]]е затворного канала, будет нейтрализовано, тем самым «открывая» канал для точного измерения целостности цепи [[исток]]/[[сток]]. | ||
Поскольку канал JFET представляет собой единый непрерывный кусок полупроводникового материала, обычно нет разницы между выводами | Поскольку канал [[JFET]] представляет собой единый непрерывный кусок полупроводникового материала, обычно нет разницы между выводами [[исток]]а и [[сток]]а. Проверка сопротивления от [[исток]]а к [[сток]]у даёт такое же значение, как и проверка от стока к [[исток]]у. Это сопротивление будет относительно низким (максимум несколько сотен Ом), когда напряжение [[P-N-переход]]а [[затвор]]/[[исток]] равно нулю. При приложении напряжения обратного смещения между [[затвор]]ом и [[исток]]ом обрыв канала должен быть очевиден, ибо измеритель покажет повышенное сопротивление. | ||
=См.также= | =См.также= | ||
=Внешние ссылки= | =Внешние ссылки= | ||
Строка 30: | Строка 30: | ||
<references /> | <references /> | ||
{{Навигационная таблица/Электроника | {{Навигационная таблица/Портал/Электроника}} | ||
Текущая версия от 21:44, 22 мая 2023
Проверка полевого транзистора (JFET) с помощью мультиметра[1]
Тестирование полевого транзистора с помощью мультиметра может показаться относительно простой задачей, поскольку у него есть только один P-N-переход, который нужно проверить: измерение проводится либо между затвором и истоком, либо между затвором и стоком.
Тестирование непрерывности N-канального JFET
Другое дело – проверка целостности канала сток/исток. Припоминаете из предыдущего раздела, как накопленный заряд за счёт ёмкости P-N-перехода затворного канала удерживает полевой транзистор в отключённом состоянии без какого-либо внешнего напряжения? Так вот – подобное может произойти, даже если вы держите JFET в руке, чтобы его проверить! Из чего следует, что в измерителе любое показание непрерывности через этот канал будет непредсказуемым, поскольку вы не знаете наверняка, накопился ли заряд в переходе затвор/канал. Конечно, если заранее известно, какие клеммы на устройстве ведут к затвору, истоку и стоку, то можно подключиться к перемычке между затвором и истоком, чтобы избавиться от любого накопленного заряда, а затем без проблем приступить к проверке целостности цепи исток/сток. Однако, если вы не знаете, где какие выводы, неопределённость того, где именно находится переход исток/сток может запутать идентификацию, где какой вывод.
Как тестировать JFET
Хорошая стратегия, которой следует придерживаться при тестировании JFET, – вставить контакты транзистора в антистатический пенопласт (это такой материал, используемый для доставки и хранения статических электронных компонентов) непосредственно перед тестированием. Проводимость пенопласта создаёт резистивное соединение между всеми выводами транзистора, когда они будут в него вставлены. Это соединение гарантирует, что всё остаточное напряжение, создаваемое на P-N-переходе затворного канала, будет нейтрализовано, тем самым «открывая» канал для точного измерения целостности цепи исток/сток.
Поскольку канал JFET представляет собой единый непрерывный кусок полупроводникового материала, обычно нет разницы между выводами истока и стока. Проверка сопротивления от истока к стоку даёт такое же значение, как и проверка от стока к истоку. Это сопротивление будет относительно низким (максимум несколько сотен Ом), когда напряжение P-N-перехода затвор/исток равно нулю. При приложении напряжения обратного смещения между затвором и истоком обрыв канала должен быть очевиден, ибо измеритель покажет повышенное сопротивление.
См.также
Внешние ссылки