Русская Википедия:Особенность-ориентированное сканирование
Особенность-ориентированное сканирование (ООС, Шаблон:Lang-en) — способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа. В ходе ООС, переходя от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности поверхности, производится измерение относительного расстояния между особенностями, а также измерения рельефов окрестностей этих особенностей. Описанный подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода – объектно-ориентированное сканирование.
Рельеф
Под особенностями поверхности понимаются любые элементы её рельефа, которые в широком смысле выглядят как холм или яма. Примерами особенностей (объектов) поверхности являются: атомы, междоузлия, молекулы, зёрна, наночастицы, кластеры, кристаллиты, квантовые точки, наноостровки, столбики, поры, короткие нанопроводники, короткие наностержни, короткие нанотрубки, вирусы, бактерии, органеллы, клетки и т. п.
ООС предназначено для высокоточного измерения рельефа поверхности (см. Рис.), а также других её свойств и характеристик. Кроме того, ООС позволяет получить более высокое, чем при обычном сканировании, пространственное разрешение. Благодаря ряду встроенных в ООС приёмов практически отсутствуют искажения, вызываемые тепловыми дрейфам и ползучестями (крипами).
Применение
Области применения ООС: метрология поверхности, прецизионное позиционирование зонда, автоматическая характеризация поверхности, автоматическая модификация/стимуляция поверхности, автоматическая манипуляция нанообъектами, нанотехнологические процессы сборки “снизу вверх”, согласованное управление аналитическими и технологическими зондами в многозондовых устройствах, управление атомными/молекулярными ассемблерами, управление зондовыми нанолитографами и др.
См. также
Литература
1. Шаблон:Статья (имеется перевод на русский Шаблон:Wayback).
2. Шаблон:Статья (имеется перевод на русский Шаблон:Wayback).
3. Шаблон:Книга
9. Шаблон:Cite conference Шаблон:Wayback
10. Шаблон:Статья
11. Шаблон:Статья
12. Шаблон:Cite conference Шаблон:Wayback
Ссылки
- Feature-oriented scanning Шаблон:Wayback, Research section, Lapshin's Personal Page on SPM & Nanotechnology
Шаблон:Сканирующая зондовая микроскопия
- Русская Википедия
- Страницы с неработающими файловыми ссылками
- Сканирующие микроскопы
- Сканирующий атомно-силовой микроскоп
- Сканирующий зондовый микроскоп
- Нанотехнология
- Страницы, где используется шаблон "Навигационная таблица/Телепорт"
- Страницы с телепортом
- Википедия
- Статья из Википедии
- Статья из Русской Википедии
,_%D0%A0%D0%B8%D1%81._1.png){kind=link}